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一、主要技術(shù)指標(biāo)
光模塊高低溫試驗(yàn)箱型號：ADX-TH-500B
1.內(nèi)箱尺寸:700mm(W)×800mm(H)×900mm(D)
2.外箱尺寸:1050mm(W)×2000mm(H)×1700mm(D)
3.溫度范圍:-40∽150℃；
4.濕度范圍:20%∽98%RH（詳見溫濕度范圍示意圖）
5.溫度波動(dòng)度：≤±0.3℃
6.溫度偏差:≤±2℃
7.濕度度偏差: ±2%RH(濕度>75%RH時(shí));±3%RH(濕度≤75%RH時(shí));
8.升溫時(shí)間:20℃∽+100℃ 40分鐘以內(nèi);（空載情況下）
9.降溫時(shí)間:20℃∽ -40℃ 60分鐘以內(nèi);（空載情況下）
10.本設(shè)備不能放置含有易燃﹑易爆或會(huì)產(chǎn)生揮發(fā)﹑腐蝕性氣體的物品進(jìn)行試驗(yàn)或存儲(chǔ).
注:以上指標(biāo)均是在室溫為+25℃,無試樣條件下測得的數(shù)值.
溫濕度范圍示意圖

二、光模塊高低溫試驗(yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)及材料:
1.外殼材料: 鋼板靜電噴涂表面處理。
2.內(nèi)箱材料: ＳＵＳ＃３０４耐熱耐寒鏡面不銹鋼板。
3.絕熱材料:箱體:硬質(zhì)聚胺脂泡沫+玻璃纖維;
4.標(biāo)準(zhǔn)配置;觀察窗1個(gè)(透明電熱膜中空玻璃),50mm電纜孔1個(gè)（位于箱體左側(cè)），樣品架2套，照明燈1個(gè)，腳輪4個(gè)，電源線（長3米)1條.

三.滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.光器件，光模塊高低溫試驗(yàn)箱滿足GB/T2423.1-2001  GB/T2423.2-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.4-1993的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要求和GB/T5170.2-1996 GB/T5170-1996的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn).
2.本設(shè)備出廠前經(jīng)本公司質(zhì)量檢驗(yàn)中心檢測,并出具有效期為一年的檢驗(yàn)報(bào)告.

四.光模塊高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備使用條件:
1.環(huán)境溫度: 5℃-35℃;
2.相對濕度: ≤85%RH;
3.電源電壓: 380V AC(±10%),單相線+保護(hù)地線,接地電阻≤4Ω;
4.頻率: 50±0.5Hz
5.電源開關(guān):空氣開關(guān)(40A禁止使用閘刀開關(guān)或電源插座);
6.功率: 15KW;
7.加濕用水;電阻率?≥500MΩ;
8.環(huán)境空氣質(zhì)量要求;不含高濃度粉塵及易燃.易爆氣體或粉塵,附近沒有強(qiáng)電磁輻射源.

高低溫試驗(yàn)箱，恒溫恒濕試驗(yàn)箱，環(huán)境試驗(yàn)做為檢驗(yàn)提高電子產(chǎn)品可靠性的一種常用手段，廣泛用于電子產(chǎn)品的各個(gè)研發(fā)周期。光器件、光纖在出廠前要經(jīng)歷高低溫試驗(yàn)箱（也叫快溫循箱）進(jìn)行高低溫循環(huán)測試，每種材料的熱膨脹系數(shù)不一樣，只有在劇烈的溫度變化下，才能考驗(yàn)不同材料是否存在失效風(fēng)險(xiǎn)。快速溫變試驗(yàn)箱的升降溫速率至少10℃/min，在85℃和-40℃這兩個(gè)溫度點(diǎn)，還要停留足夠長的時(shí)間讓器件達(dá)到環(huán)境溫度。對于室內(nèi)應(yīng)用的光模塊，溫循100次就OK，對于室外應(yīng)用光模塊，需要溫循500次。對于有TEC控溫的模塊，溫循的時(shí)候，需要把TEC開著。光纖通信產(chǎn)品一般有低溫存儲(chǔ)和高溫存儲(chǔ)。經(jīng)大量試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，有源器件在低溫下，不太可能失效，所以低溫存儲(chǔ)時(shí)間只有72小時(shí)，甚至可以不用做。而高溫存儲(chǔ)一般在85℃下存儲(chǔ)2000h，如果器件的工作溫度高于85℃，那么在器件zui高工作溫度下存儲(chǔ)。相比有源器件，無源器件里面用的膠比較多，膠有個(gè)很重要的參數(shù)就是Tg點(diǎn)，Tg點(diǎn)是膠的力學(xué)特性改變溫度點(diǎn)。因此一般無源器件在-40℃低溫存儲(chǔ)1000h